Advanced search ?

Object

Access Limited

This publication is protected and its content is only available in certain networks in Silesian University of Technology.
This publication is protected and its content is only available in certain networks in Silesian University of Technology.

Title: Struktura i własności nanostrukturalnych warstw antyrefleksyjnych otrzymanych metodą ALD oraz zol-żel na krzemowych ogniwach fotowoltaicznych ; Structure and properties of nanostructured antireflection coatings, obtained by ALD and sol-gel methods on the silicon photovoltaic cells

Creator:

Szindler, Marek

Date:

2014

Resource Type:

rozprawa doktorska

place:

Gliwice

Contributor:

Dobrzański, Leszek Adam. Promotor ; Nabiałek, Marcin. Recenzent ; Tański, Tomasz. Recenzent

Comment:

obrona: 2014-09-10 ; streszczenie pracy

Format:

application/pdf

Resource Identifier:

Katalog OPAC ; Baza „Dorobek” ; oai:repolis.bg.polsl.pl:23375

Language:

pol

Relation:

Wydział Mechaniczny Technologiczny. Politechnika Śląska

Rights Management:

własność autora - umowa licencyjna PŚ

Access:

zasób dostępny z komputerów w domenie PŚ

Source of funding:

Digitalizacja i udostępnianie w formie elektronicznej recenzji rozpraw doktorskich bronionych na Politechnice Śląskiej - zadanie finansowane w ramach umowy nr 549/P-DUN/2018 ze środków Ministra Nauki i Szkolnictwa Wyższego przeznaczonych na działalność upowszechniającą naukę

Project Identifier:

Działalność Upowszechniająca Naukę - umowa nr 549/P-DUN/2018

Subject and keywords:

atomowe osadzanie warstw ogniwa fotowoltaiczne nanostrukturalne warstwy antyrefleksyjne warstwy antyrefleksyjne zol-żel warstwy nanostrukturalne metoda ALD ogniwa krzemowe inżynieria materiałowa materiały fotowoltaiczne warstwy cienkie warstwy aluminiowe metoda atomowego osadzania warstw (ALD) warstwy Al2O3

Object collections:

Last modified:

Nov 21, 2019

In our library since:

Aug 1, 2014

Number of object content hits:

36

All available object's versions:

https://repolis.bg.polsl.pl/publication/25068

Show description in RDF format:

RDF

Show description in OAI-PMH format:

OAI-PMH

Edition name Date
Szindler, Marek, 2014, Struktura i własności nanostrukturalnych warstw antyrefleksyjnych otrzymanych metodą ALD oraz zol-żel na krzemowych ogniwach fotowoltaicznych Nov 21, 2019

Objects

Similar

Struktura i własności nanostrukturalnych warstw antyrefleksyjnych otrzymanych metodą ALD oraz zol-żel na krzemowych ogniwach fotowoltaicznych

Szindler, Marek Dobrzański, Leszek Adam. Promotor Nabiałek, Marcin. Recenzent Tański, Tomasz. Recenzent

2014
rozprawa doktorska

Polimerowe warstwy półprzewodnikowe zol-żel do zastosowań fotowoltaicznych

Szindler, Magdalena Dobrzański, Leszek Adam. Promotor Mazurkiewicz, Janusz. Recenzent Żenkiewicz, Marian. Recenzent

2017
rozprawa doktorska

Sol-gel semiconductor polymer layers for photovoltaic applications

Szindler, Magdalena Dobrzański, Leszek Adam. Promotor Mazurkiewicz, Janusz. Recenzent Żenkiewicz, Marian. Recenzent

2017
rozprawa doktorska

Własności optoelektroniczne aktywnych warstw organicznych PVD ogniw fotowoltaicznych

Jarka, Paweł Weszka, Jan. Promotor Dobrzański, Leszek Adam. Recenzent Lipiński, Marek. Recenzent

2013
rozprawa doktorska

Własności optoelektroniczne aktywnych warstw organicznych PVD ogniw fotowoltaicznych

Jarka, Paweł Weszka, Jan. Promotor Dobrzański, Leszek Adam. Recenzent Lipiński, Marek. Recenzent

2013
rozprawa doktorska

Mikroobróbka laserowa elementów krzemowych ogniw fotowoltaicznych

Musztyfaga, Małgorzata Dobrzański, Leszek Adam. Promotor Nowosielski, Ryszard. Recenzent Zięba, Paweł. Recenzent

2011
rozprawa doktorska

Mikroobróbka laserowa elementów krzemowych ogniw fotowoltaicznych

Musztyfaga, Małgorzata Dobrzański, Leszek Adam. Promotor Nowosielski, Ryszard. Recenzent Zięba, Paweł. Recenzent

2011
rozprawa doktorska
More

Contact details

Address

Digitization Laboratory
Library of the Silesian University of Technology

st. Kaszubska 23 / room 317
44-100 Gliwice
Poland

Phone

tel. +48 32-237-26-47

E-Mail

bg.repolis@polsl.pl

Visit us!

This page uses 'cookies'. More information