Obiekt

Tytuł: Testowanie analogowych układów elektronicznych z wykorzystaniem dedykowanych pobudzeń aperiodycznych ; Fault diagnosis of analog electronic circuits using specialised aperiodic excitations

Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:

Data ostatniej modyfikacji:

2019-07-05

Data dodania obiektu:

2013-07-01

Liczba wyświetleń treści obiektu:

62

Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:

https://repolis.bg.polsl.pl/publication/8540

Wyświetl opis w formacie RDF:

RDF

Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:

OAI-PMH

Obiekty

Podobne

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji