Waluś, Stanisław. Promotor ; Choiński, Dariusz. Recenzent ; Miczulski, Wiesław. Recenzent
Katalog Biblioteki ; oai:repolis.bg.polsl.pl:19360
Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki. Politechnika Śląska
własność autora - umowa licencyjna PŚ
zasób dostępny z komputerów w domenie Politechniki Śląskiej
Działalność Upowszechniająca Naukę - umowa nr 549/P-DUN/2018
Oct 24, 2021
Feb 20, 2014
54
https://repolis.bg.polsl.pl/publication/20892
Edition name | Date |
---|---|
Banaczyk, Elżbieta, 2013, Optymalizacja metrologiczna pomiaru objętości materiału sypkiego metodą radarową | Oct 24, 2021 |
Banaczyk, Elżbieta Waluś, Stanisław. Promotor Choiński, Dariusz. Recenzent Miczulski, Wiesław. Recenzent
Hagel, Marek Malzacher, Stanisław. Promotor Lipowczan, Adam. Recenzent Piotrowski, Janusz. Recenzent
Saferna, Jerzy Jasicki, Zbigniew. Promotor Bladowski, Stanisław. Recenzent Stępniewski, Tadeusz. Recenzent Szymik, Franciszek. Recenzent
Saferna, Jerzy Jasicki, Zbigniew. Promotor Bladowski, Stanisław. Recenzent Stępniewski, Tadeusz. Recenzent Szymik, Franciszek. Recenzent
Piątkiewicz, Zbigniew Dietrych, Janusz. Promotor Pelczarski, Stanisław. Recenzent Wernicki, Zbigniew. Recenzent
Piątkiewicz, Zbigniew Dietrych, Janusz. Promotor Pelczarski, Stanisław. Recenzent Wernicki, Zbigniew. Recenzent
Wołek, Stanisław Węgrzyn, Stefan. Promotor Grzywak, Andrzej. Recenzent Palusiński, Olgierd. Recenzent Piasecki, Stanisław. Recenzent
Wołek, Stanisław Węgrzyn, Stefan. Promotor Grzywak, Andrzej. Recenzent Palusiński, Olgierd. Recenzent Piasecki, Stanisław. Recenzent